ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半導體功率器件圖示系統,系統IV曲線自動生成,也可根據實際需求設置功能測試,直接讀取數顯結果。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立,保證了數據的準確可靠。提供在線故障判斷,遇到器件接觸不良時系統自動停止測試。通過USB或者RS232與電腦連接,以及人機界面操作,即可完成測試,并實現結果以Excel和Date的格式保存。
系統概述:
ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半導體功率器件圖示系統,系統IV曲線自動生成,也可根據實際需求設置功能測試,直接讀取數顯結果。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立,保證了數據的準確可靠。提供在線故障判斷,遇到器件接觸不良時系統自動停止測試。通過USB或者RS232與電腦連接,以及人機界面操作,即可完成測試,并實現結果以Excel和Date的格式保存。
曲線測試: 參數條件:
01 | 二極管 / DIODE |
02 | 晶體管 / NPN型/PNP型 |
03 | J型場效應管 / J-FET |
04 | MOS場效應管 / MOS-FET |
05 | 雙向可控硅 / TRIAC |
06 | 可控硅 / SCR |
07 | 絕緣柵雙極性晶體管 / IGBT |
08 | 硅觸發可控硅 / STS |
09 | 達林頓陣列 / DARLNTON |
10 | 光電耦合 / OPTO-COUPLER |
11 | 繼電器 / RELAY |
12 | 穩壓、齊納二極管 / ZENER |
13 | 三端穩壓器 / REGULATOR |
14 | 光電開關 / OPTO-SWITCH |
…… | 其它器件共19大類27分類 |
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS / HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V)vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT)vs. IC
VBE(SAT)vs. IC
VBE(ON)vs. IC (use VBE test)
VCE(SAT)vs. IB at a range of ICVF vs. IF
匹配規格
主極電壓 | 1mV-2000V |
電壓分辨率 | 1mV |
主極電流 | 0.1nA-100A |
電流分辨率 | 0.1nA |
測試精度 | 0.2%+2LSB |
測試速度 | 0.5mS/參數 |
測試參數:
漏電參數:IR、 ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、
ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、
IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
擊穿參數:BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、
BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR 、VD+、VD-、
BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO
導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、
VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、
VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)
Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
關斷參數:VGSOFF
觸發參數:IGT、VGT
保持參數:IH、IH+、IH-
鎖定參數:IL、IL+、IL
增益參數:hFE、CTR、gFS
混合參數:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulatio
間接參數:IL
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企業詳細信息
普通會員
廠商性質
系統集成商
所在地
陜西省
聯系人
張芳
地址:西安市灃東新城中興深藍科技產業園
電話:15319792496
傳真:
網址:http://
主營產品:靜態參數,動態參數(開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區)測試 等);雪崩能力測試,老化及可靠性。 參數測試設備: 靜態參數;動態參數(開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區)測試等);老化及可靠性 二
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