在數(shù)控系統(tǒng)測(cè)試裝置的研制過程中,為了提高測(cè)試系統(tǒng)的可靠性和實(shí)現(xiàn)測(cè)試裝置的小型化,提出了利用LS7266和現(xiàn)場(chǎng)總線構(gòu)成的測(cè)試裝置來實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)控系統(tǒng)的綜合測(cè)試方法,在該方法的基礎(chǔ)上研制了數(shù)控系統(tǒng)的綜合測(cè)試裝置,在實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上分析了影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果的主要因素。