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骨架提取在IC晶片缺陷機器視覺識別中的研究

發布時間：2009/3/30 16:15:00

文件類型：rar

資料大小：230.12KB

提供者：中國傳動網

【骨架提取在IC晶片缺陷機器視覺識別中的研究】

資料介紹
光刻工藝導致的IC晶片制造中缺陷種類多樣，丟失物和冗余物缺陷是影響成品率下降的重要原因，其主要造成電路開路和短路。

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