BW-AH-5520

            半導體高精度自動溫度實驗系統       

產品名稱：半導體高精度自動溫度實驗系統

品牌：博微電通

名稱：半導體高精度自動溫度實驗系統

型號：BW-AH-5520

用途：BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統采用特殊的結構設計，保證待測元器件區域溫度高穩定度及均勻度。采用雙高精度 RTD 溫度傳感器進行精密控溫及過溫保護，并具有多重保護功能，可以對器件在不同溫度下的性能進行精密測量分析及篩選。

【溫補晶振補償電壓自動測試分析】

【美國????SA4220MR完全替代產品】

【獨創的圓形內腔軸對稱設計，循環氣流控制技術-Leaded驅動測試環】

產品電氣參數

配置規格

外形尺寸： 55W*95D*120H (cm)

產品質量：＜200kg

電網環境：380VAC/50Hz，3 相 5線，35A/相

溫度范圍：-55°C~150°C（水冷式或風冷式）    -65°C~150°C（LN2制冷）     200°C（選配）

溫度精度： +/-0.1°C （-55°C~150°C）    +/-0.8°C （150°C~200°C）   溫度分辨率： 0.01°C

測試圈：4英寸/8英寸；工位數：49/98個

制冷機組：法國泰康

制冷方式：MR機械制冷(風冷/水冷)或LN2制冷

蓋子高度：10cm(4”標配)  15cm/20cm(6”& 8”選配)

遠程接口：RS-232/Ethernet

顯示控制： 7”高清電容觸摸屏

冷卻水RCW：17-25°C軟化水    壓力：0.3-1MPa    流量：8升/分鐘

產品特點

1、創新性的圓形內腔軸對稱設計，循環氣流控制，保證待測器件區域溫度的高精密穩定度及均勻度。

2、適用于DIP, SMD等各種封裝的小型電子元件、分立器件、集成電路等精密在線高低溫測試。

3、精密步進電機驅動實現自動過程測試（Leaded驅動環）。

4、根據待測器件封裝形式及規格可自定義溫測圈的工位。

5、測試試驗箱測試腔體上蓋可以自動電動升降，方便取放溫測圈，保障測安全。

6、每批次器件測量同配置參數、同工位、同溫度測點、精確測量器件的溫度特性，參數可進行批次同比環比分析。

7、配置RS-232接口及Ethernet接口，可實現遠程自動控制。

可針對以下封裝的半導體器件進行高精度自動溫度實驗測量

(1)石英晶體諧振器、振蕩器

(2)電阻、電容、電感

(3)二極管、三極管、場效應管(MOSFET)、IGBT、SCR

(4)光電耦合器

(5)MEMS

(6)聲表面波器件(SAW Device)

(7)集成電路

BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統具備風冷式，水冷式，液氮制冷式冷卻方式；主要是用來對各種元器件及芯片等性能參數在全溫度范圍內、實現精密在線測試。