

半導體靜電放電發生器ESD-06G/芯片集成電路靜電測試儀
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靜電放電發生器專門為IC、LED等半導體器件的抗靜電測試而設計,儀器集成人體放電模式(HBM)和機械放電模式(MM)通過更換阻容模塊來實現兩種測試功能。
標準
MIL-STD-883E、 METHOD 3015.7、EIAJED-4701ConditionA、EIAJED-4701ConditionB、GJB-548A-3015、SJ/T11394、SJ/T11399
優點
- 1.超大液晶顯示,智能控制高壓輸出,體積小,重量輕,操作方便;
- 2.內置溫濕度傳感器,及時記錄現場試驗環境;
- 3.電子式高壓電源,電壓穩定精度高;
- 4.內置單片機控制,穩定可靠,操作方便;
- 5.主開關采用美國原裝進口;
- 6.正負極性自動切換;
- 7.RS-232接口,PC控制操作

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