ä¸€ã€æ¦‚è¿°
  PXI技術是Compact PCI與儀器ã€å„€è¡¨æŠ€è¡“相çµåˆçš„產(chÇŽn)物,隨著PXI 2.0è¦(guÄ«)范的制定和發(fÄ)布,PXI產(chÇŽn)å“越來越æˆç†Ÿï¼Œå¸‚å ´ä¸Šå¯ä¾›é¸æ“‡çš„æ¨¡å¡Šä¹Ÿè¶Šä¾†è¶Šå¤šï¼Œèˆ‡å‚³çµ±(tÇ’ng)儀器相比, PXI產(chÇŽn)å“具有性能和體ç©ä¸Šçš„優(yÅu)å‹¢ï¼Œå› æ¤éžå¸¸é©åˆåœ¨å¼·èª¿(dià o)移動的測é‡å’Œä¿®ç†å ´åˆä¸é‡‡ç”¨ï¼ˆå¦‚:應用在è»äº‹æª¢æ¸¬å’Œä¿®ç†é ˜åŸŸä¸ï¼‰ï¼Œæœ¬æ–‡ä»¥å¤šåŠŸèƒ½æ ¡æº–å„€çš„é–‹ç™¼(fÄ)éŽç¨‹ç‚ºä¾‹ï¼Œç°¡å–®ä»‹ç´¹äº†PXI系統(tÇ’ng)相關的軟硬件構æˆå’Œæ‡‰ç”¨ã€‚
  
  開發(fÄ)ä¸çš„å¤šåŠŸèƒ½æ ¡æº–å„€ï¼Œæ˜¯ä¸€æ¬¾ç”¨ä»¥ç¾(xià n)å ´æ¸¬è©¦çš„ä¾¿æ”œå¼æª¢æ¸¬è¨å‚™ï¼Œå…¶è»Ÿã€ç¡¬ä»¶çµæ§‹å¦‚圖1所示:

在系統(tÇ’ng)ä¸ï¼ŒPXI模塊是最基本的ç¨ç«‹å–®å…ƒï¼Œåœ¨è»Ÿä»¶çš„æŽ§åˆ¶ä¸‹æ¯ç¨®æ¨¡å¡Šéƒ½å¯ä»¥å¯¦ç¾(xià n)一定功能。模塊的應用途徑有二:
  1ã€ä¸€äº›æ¨¡å¡Šé€šéŽè‡ªå¸¶çš„專用軟件,直接以虛擬儀器的形å¼ä½¿ç”¨ï¼ˆå¦‚:數(shù)å—多用表);
  2ã€ä¸åŒçš„æ¨¡å¡Šå’Œå°ˆç”¨é©é…器通éŽçµ„åˆè»Ÿä»¶çµåˆåœ¨ä¸€èµ·ï¼Œå®Œæˆç”¨æˆ¶è³¦äºˆçš„å…¶ä»–ä»»å‹™ï¼ˆå¦‚ï¼šé›»ç§’è¡¨æ ¡æº–ï¼‰ã€‚
  
二ã€ç³»çµ±(tÇ’ng)構建
  在系統(tÇ’ng)構建之åˆï¼Œé¦–å…ˆæ˜¯é¸æ“‡ç¬¦åˆéœ€è¦çš„PXIæ¨¡å¡Šï¼Œéœ€æ±‚ã€æ€§èƒ½ã€åƒ¹æ ¼ã€æœå‹™æ˜¯æˆ‘們鏿“‡æ™‚主è¦çš„åƒè€ƒå› ç´ ï¼Œå¾žæª¢æ¸¬å’Œä¿®ç†çš„實際需求出發(fÄ),當å‰è¿«åˆ‡éœ€è¦è§£æ±ºçš„å•題有:
  ² 指é‡å¼å„€è¡¨ã€æ•¸(shù)å—å„€è¡¨çš„æ ¡æº–
  ² é›»ç§’è¡¨æ ¡æº–
  ² é›»æºè¨å‚™æª¢æ¸¬
  ² 儀器è¨å‚™ï¼ˆå¼±é›»ã€ä½Žé »ï¼‰æª¢æ¸¬
  ² 元器件功能檢測
  ² 數(shù)å—信號檢測
  ² æ¦å™¨è£å‚™çš„部ã€é™„件檢修
  確定了目標,通éŽå¸‚å ´çš„èª¿(dià o)ç ”ï¼Œæœ€çµ‚çš„æ–¹æ¡ˆæˆ‘å€‘é‡‡ç”¨äº†å¤šå®¶å…¬å¸çš„PXIå’ŒCPCI產(chÇŽn)å“ï¼Œå¤šåŠŸèƒ½æ ¡æº–å„€çš„æ§‹å»ºæƒ…æ³å¦‚下表所示,這個方案既é¿å…了片é¢è¿½æ±‚é«˜æ€§èƒ½é€ æˆçš„æµªè²»ï¼Œåˆç•™å‡ºä¸€å®šçš„æŒ‡æ¨™ä½™é‡ä»¥é©æ‡‰ä»ŠåŽçš„發(fÄ)展。

å¦å¤–ï¼Œåœ¨å¤šåŠŸèƒ½æ ¡æº–å„€çš„çµ„ä»¶ä¸é™¤äº†ç³»çµ±(tÇ’ng)å¿…å‚™çš„æ©Ÿç®±å’ŒæŽ§åˆ¶æ¨¡å¡Šå¤–ï¼Œæ ¹æ“š(jù)è»äº‹æª¢æ¸¬å’Œä¿®ç†çš„需è¦ï¼Œæˆ‘們還采購了寬范åœçš„交æµ/ç›´æµé›»æºæ¨¡å¡Šï¼Œä»¥é©æ‡‰é‡Žå¤–或ç¾(xià n)å ´æ¸¬è©¦æ¢ä»¶ä¸‹æƒ¡åŠ£çš„ç’°(huán)境。
  
  系統(tÇ’ng)編程采用了NIå…¬å¸çš„LabVIEW軟件,與VBã€VC相比,圖形化編程工具LabVIEW,更é©åˆç”¨ä¾†é–‹ç™¼(fÄ)自動化測試系統(tÇ’ng)ï¼Œé€™æ˜¯å› ç‚ºNI作為PXIè¦(guÄ«)范的發(fÄ)起人,å°è¦(guÄ«)范的ç†è§£å’Œæ”¯æŒç›¸å°åšçš„æ›´å¥½ä¸€äº›ï¼Œé€šéŽVISA和最新的IVIé©…(qÅ«)動技術,其它公å¸çš„PXI/CPCI產(chÇŽn)å“在LabVIEWä¸ä¹Ÿèƒ½å¾—到比較好的支æŒï¼ˆåœ¨for LabVIEW的驅(qÅ«)動程åºä¸Šï¼Œå‡Œè¯ä»¥é–‹ç™¼(fÄ)åŒ…çš„å½¢å¼æä¾›äº†è¼ƒå®Œå–„çš„ç¡¬ä»¶é©…(qÅ«)動),那些熟悉VBã€VC的程åºå“¡é‚„å¯ä»¥é€šéŽDLL調(dià o)ç”¨ç‰æ–¹å¼ï¼Œç›´æŽ¥åœ¨LabVIEWä¸æŽ§åˆ¶ç¡¬ä»¶ï¼Œé€™äº›å„ª(yÅu)å‹¢å°äºŽéœ€è¦åœ¨çŸæ™‚é–“æ§‹å»ºä¸€å€‹ç¶œåˆæ¸¬è©¦ç³»çµ±(tÇ’ng)的用戶來說是éžå¸¸æœ‰å¸å¼•力的。下圖是用LabVIEW開發(fÄ)çš„å¤šåŠŸèƒ½æ ¡æº–å„€çš„ç¶œåˆæ¸¬è©¦è»Ÿä»¶ã€‚
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å¤šåŠŸèƒ½æ ¡æº–ç³»çµ±(tÇ’ng)çš„ç¶œåˆæ¸¬è©¦è»Ÿä»¶[/align]
ä¸‰ã€æ‡‰ç”¨æƒ…æ³
  PXI模塊應用éŽç¨‹ä¸ï¼Œä¸å¯é¿å…地會碰到å„ç¨®å„æ¨£å•é¡Œï¼Œä¸‹é¢æ˜¯å¤šåŠŸèƒ½æ ¡æº–å„€é–‹ç™¼(fÄ)ä¸çš„一些經(jÄ«ng)驗總çµï¼Œå°å¾žäº‹PXI系統(tÇ’ng)開發(fÄ)的用戶也許會有所幫助。
  
(1)模塊間的軟ã€ç¡¬ä»¶æ²–çªåŠè§£æ±ºï¼›
  由于采用了多家公å¸çš„æ¨¡å¡Šç”¢(chÇŽn)å“,在系統(tÇ’ng)安è£çš„åˆæœŸï¼Œç¶“(jÄ«ng)常會發(fÄ)生æŸäº›æ¨¡å¡Šä¸èƒ½æ£å¸¸ä½¿ç”¨çš„å•題,例如:系統(tÇ’ng)ä¸16通é“繼電器輸出模塊(52642)是一款基于NI –IVI é©…(qÅ«)å‹•çš„PXIæ¨¡å¡Šï¼ŒæŒ‰ç…§ä½¿ç”¨èªªæ˜Žæ›¸æ‰€è¦æ±‚çš„é †åºå®‰è£äº†é©…(qÅ«)動程åºï¼Œç”¨LabVIEW自帶的Measurement & Automation Explorer(MAX)軟件å»å§‹çµ‚找ä¸åˆ°æ¨¡å¡Šçš„蹤影,在系統(tÇ’ng)的資æºç®¡ç†å™¨ä¸è©²æ¨¡å¡Šçš„é©…(qÅ«)å‹•å»ä¸€åˆ‡æ£å¸¸ï¼Œè€ƒæ…®åˆ°è©²å¡åˆ°è²¨æ¯”較晚,安è£å‰æ©Ÿç®±ä¸å·²ç¶“(jÄ«ng)æœ‰å…¶å®ƒæ¨¡å¡Šï¼Œç‚ºäº†æŸ¥æ‰¾åŽŸå› ï¼ŒäºŽæ˜¯å¸è¼‰äº†52642模塊的軟件驅(qÅ«)å‹•ï¼Œæ‹”ä¸‹äº†æ‰€æœ‰ç„¡é—œçš„æ¨¡å¡Šï¼Œé‡æ–°æŒ‰ç…§èªªæ˜Žæ›¸çš„è¦æ±‚å–®ç¨å®‰è£52642æ¨¡å¡Šï¼Œçµæžœä¾èˆŠï¼Œæƒ…æ€¥ä¹‹ä¸‹æ±ºå®šé‡æ–°å®‰è£æ“作系統(tÇ’ng),æ“作系統(tÇ’ng)安è£å®Œç•¢åŽé¦–å…ˆæ’å…¥52642æ¨¡å¡Šï¼ŒæŒ‰è¦æ±‚安è£è»Ÿã€ç¡¬ä»¶é©…(qÅ«)å‹•åŽï¼Œè©²æ¨¡å¡Šçµ‚于在MAXä¸å‡ºç¾(xià n)了,至æ¤ä»¥ç‚ºä¸€åˆ‡æ£å¸¸ï¼ŒäºŽæ˜¯å°‡å‰©ä½™çš„æ¨¡å¡Šé€ä¸€æ’入機箱,安è£å®Œç›¸æ‡‰çš„é©…(qÅ«)å‹•ï¼Œå†æ¬¡æ¸¬è©¦ç™¼(fÄ)ç¾(xià n)以å‰å·¥ä½œå®Œå…¨æ£å¸¸çš„ä»»æ„æ³¢å½¢ç™¼(fÄ)生器TE5201模塊罷了工,有了第一次的經(jÄ«ng)é©—ï¼Œå†æ¬¡é‡è£æ“作系統(tÇ’ng),先æ’å…¥5201模塊,安è£ç¡¬ä»¶é©…(qÅ«)動和相應軟件åŽï¼Œ5201能è˜åˆ¥å¹¶æ£å¸¸å·¥ä½œï¼ŒæŽ¥è‘—æ’å…¥52642æ¨¡å¡Šï¼ŒæŒ‰è¦æ±‚è£å¥½é©…(qÅ«)å‹•ï¼Œå†æ¬¡å•Ÿå‹•åŽï¼Œ52642å’Œ5201å‡èƒ½æ£å¸¸å·¥ä½œï¼ŒæŽ¥ä¸‹ä¾†é€ä¸€å®‰è£å…¶å®ƒæ¨¡å¡ŠåŠç›¸æ‡‰çš„é©…(qÅ«)動和支æŒè»Ÿä»¶åŽï¼Œæ•´å€‹ç³»çµ±(tÇ’ng)終于完全æ£å¸¸ï¼Œå…©å¤©çš„磨難說明PXI系統(tÇ’ng)在構建éŽç¨‹ä¸ï¼Œå°¤å…¶æ˜¯åœ¨å¤šå®¶å…¬å¸æ¨¡å¡Šå…±å˜çš„æƒ…æ³ä¸‹ï¼ŒæŒ‰ç…§å¸¸è¦(guÄ«)的方法安è£é©…(qÅ«)å‹•ç¨‹åºæœ‰å¯èƒ½ç™¼(fÄ)生異常,多數(shù)情æ³ä¸‹æ¨¡å¡Šæœ¬èº«å¹¶ä¸å˜åœ¨å•題,關éµåœ¨äºŽéœ€è¦ç´°è‡´ã€è€å¿ƒåœ°èª¿(dià o)æ•´æ¨¡å¡Šå’Œè»Ÿä»¶çš„å®‰è£æ¬¡åºï¼Œå¤šåšå¹¾æ¬¡è©¦é©—往往能解決å•題;å¦å¤–ï¼Œå®‰è£æ¨¡å¡Šæ™‚一定è¦é€ä¸€å®‰è£æ¸¬è©¦ï¼Œé›–ç„¶é »ç¹çš„關機ã€é–‹æ©Ÿæ¯”較麻煩,但é‡åˆ°å•題å¯ä»¥åŠæ™‚解決,å¦å‰‡ç´¯ç©èµ·ä¾†å¯èƒ½æœƒå°Žè‡´æ„外的æå¤±ã€‚
  
(2)軟件開發(fÄ)快速上手:
  在軟件支æŒä¸Šï¼Œå‡Œè¯å…¬å¸åšçš„æ¯”較完善,ä¸ä½†ä»¥é–‹ç™¼(fÄ)åŒ…çš„å½¢å¼æä¾›äº†ç¡¬ä»¶é©…(qÅ«)動,還æä¾›äº†æ‰€æœ‰æµè¡Œç·¨ç¨‹èªžè¨€çš„æºä»£ç¢¼ä¾‹ç¨‹ï¼Œéžå¸¸ä¾¿äºŽç”¨æˆ¶é–‹ç™¼(fÄ)自己的應用程åºã€‚
  
ã€€ã€€å¤šåŠŸèƒ½æ ¡æº–å„€çš„ç³»çµ±(tÇ’ng)軟件采用LabVIEWç·¨åˆ¶ï¼Œå› æ¤åœ¨é‡‡è³¼å‰ç‰¹åˆ¥å¼·èª¿(dià o)了å°LabVIEW的支æŒèƒ½åŠ›ï¼Œæ‹¿åˆ°å‡Œè¯ç”¢(chÇŽn)å“的時候,我們發(fÄ)ç¾(xià n)凌è¯åœ¨é©…(qÅ«)å‹•æ–¹é¢å·²ç¶“(jÄ«ng)åšçš„éžå¸¸å‡ºè‰²äº†ï¼Œæœ€çµ‚åªæœ‰æ•¸(shù)å—示波器模塊TE6100需è¦é€šéŽèª¿(dià o)用DLL的形å¼ä¾†å®ŒæˆæŽ§åˆ¶ã€‚æ¯å¡Šæ¿å¡å‡Œè¯éƒ½æä¾›äº†å¹¾å€‹å¾ˆæœ‰åƒè€ƒåƒ¹å€¼çš„åVI例程,通éŽç ”究例程å¯ä»¥æ›´å¥½åœ°å¹«åŠ©ç”¨æˆ¶æŽŒæ¡æ¨¡å¡Šçš„æŽ§åˆ¶æ–¹æ³•,有的例程å¯ä»¥ç›´æŽ¥æ‡‰ç”¨åˆ°è‡ªå·±çš„è¨è¨ˆä¸ï¼Œå¤§å¤§é™ä½Žäº†é–‹ç™¼(fÄ)難度,減少了編程時間。
  
  在一個復雜的綜åˆç³»çµ±(tÇ’ng)ä¸ï¼Œå¦‚何在軟件ä¸é«”ç¾(xià n)人性化æ“作是一個éžå¸¸é‡è¦çš„ä»»å‹™ã€‚ä»¥å„€è¡¨æ ¡æº–çš„éŽç¨‹ç‚ºä¾‹ï¼Œéœ€è¦å°‡åœ‹å®¶çš„æª¢å®šè¦(guÄ«)程èžåˆåœ¨ç¨‹åºä¸ï¼Œå› æ¤åœ¨ç¨‹åºçš„編制éŽç¨‹ä¸ï¼Œå°äºŽè¦(guÄ«)程ä¸çš„共性,以åVI的形å¼å»ºç«‹ç¨ç«‹çš„軟件模塊(如環(huán)境æ¢ä»¶ã€æ ¡æº–數(shù)據(jù)處ç†ã€æ•¸(shù)據(jù)ä¿å˜å’Œæå–ç‰ï¼‰ï¼Œéœ€è¦æ™‚å¯ä»¥éš¨æ™‚調(dià o)用;è¦(guÄ«)程ä¸çš„個性,以å°è©±æ¡†ã€æç¤ºæ¡†ã€æŽ¥ç·šåœ–ç‰æ–¹æ³•完整的展ç¾(xià n)在æ“作者é¢å‰ï¼Œæ‰€æœ‰çš„å·¥ä½œæ¸…æ™°ã€æ˜Žç¢ºã€‚ç‚ºäº†åŠ å¿«LabVIEW的開發(fÄ)進度,首先è¦å°ç³»çµ±(tÇ’ng)進行細致的分æžï¼Œæ‰¾å‡ºé‚£äº›ä½¿ç”¨æœ€é »ç¹çš„基礎æ“作,然åŽå°‡é€™äº›æ“作變æˆå¯ç¨ç«‹é‹è¡Œçš„åVIï¼›ç¬¬äºŒæ¥æŠŠé€™äº›åVI組åˆåœ¨ä¸€èµ·å½¢æˆåŠŸèƒ½æ›´å¼·çš„æ¨¡å¡Šï¼›æœ€åŽé€šéŽæ¨¡å¡Šçš„組åˆå¯¦ç¾(xià n)復雜的æ“作,并最終形æˆä¸€å€‹å®Œæ•´çš„ç¶œåˆç³»çµ±(tÇ’ng)。由于LabVIEW是圖形化的編程工具,程åºçš„編制應該éµå¾ªç”±ç°¡å…¥ç¹çš„原則,建è°åœ¨ç·¨ç¨‹çš„éŽç¨‹ä¸ï¼Œéš¨æ™‚åšå¥½è©³ç´°çš„工作記錄,這樣既便于今åŽç¶è·å’Œæ“´å±•ï¼Œä¹Ÿä¾¿äºŽä»–äººç ”è®€å’Œä¿®æ”¹ã€‚
  
(3)PXIæ¨¡å¡Šçš„æ ¡æº–
  作為模塊化儀器,如何ä¿è‰æ¸¬è©¦ç²¾åº¦æ˜¯ç”¨æˆ¶éžå¸¸é—œå¿ƒçš„å•題,由于模塊å置電壓ã€ç·šæ€§å¢žç›Šç‰åƒæ•¸(shù)會隨時間ã€ç’°(huán)境發(fÄ)生變化,給測é‡å¸¶ä¾†èª¤å·®ï¼Œå› æ¤åœ¨å¤§å¤šæ•¸(shù)å ´åˆä¸‹å¿…é ˆå°PXIæ¨¡å¡Šé€²è¡Œæ ¡æº–ã€‚æ‰€è¬‚æ ¡æº–ï¼Œæ˜¯æŒ‡é€šéŽé›»è·¯çš„細微調(dià o)æ•´ä½¿æ¸¬é‡æˆ–輸出的誤差最å°åŒ–çš„éŽç¨‹ï¼ŒPXIæ¨¡å¡Šçš„æ ¡æº–æœ‰ä¸‰ç¨®æ–¹å¼ï¼š
1ã€å¸¸æ•¸(shù)æ ¡æº–æ–¹å¼
  一些PXIæ¿å¡äº¤ä»˜å‰ï¼Œåœ¨å·¥å» ä¸çš„æ¨™æº–æ¢ä»¶ä¸‹é€²è¡Œäº†æ ¡æº–(如凌è¯çš„TE6100數(shù)å—示波器模塊),用來修æ£èª¤å·®çš„æ ¡æº–常數(shù)被å˜å„²åœ¨æ¿è¼‰éžæ˜“失性å˜å„²å™¨ä¸ï¼ˆEEPROM),通éŽè£è¼‰æ ¡æº–常數(shù)就能æ¢å¾©é›¢å» å‰çš„狀態(tà i)。PXIæ¿å¡çš„EEPROMä¸é™¤äº†åŒ…å«å·¥å» æ ¡æº–æ•¸(shù)據(jù)的永久å˜å„²å€(qÅ«)域外,還有一塊供用戶使用的å¯ä¿®æ”¹çš„æ ¡æº–數(shù)據(jù)å€(qÅ«)域,這個å€(qÅ«)域內(nèi)用來ä¿å˜å·¥å» æ ¡æº–çš„åŽŸå§‹æ•¸(shù)據(jù)æˆ–ç”¨æˆ¶è‡ªå·±çš„æ ¡æº–æ•¸(shù)據(jù)。常數(shù)æ ¡æº–çš„ç²¾åº¦å¹¶ä¸é«˜ï¼Œå› ç‚ºå®ƒå¹¶æ²’æœ‰è€ƒæ…®åˆ°æ™‚é–“æŽ¨ç§»å’Œæº«åº¦è®ŠåŒ–å°æ¨¡å¡Šæ¸¬é‡å’Œè¼¸å‡ºåŠŸèƒ½çš„å½±éŸ¿ã€‚
  
2ã€è‡ªæ ¡æº–æ–¹å¼
  為了減少由于å置和增益漂移帶來的測é‡èª¤å·®ï¼Œä¸€äº›PXI模塊æä¾›äº†â€˜è‡ªæ ¡æº–â€™åŠŸèƒ½ï¼Œå…¶å·¥ä½œåŽŸç†æ˜¯ï¼šé€šéŽæ¨¡å¡Šè‡ªèº«çš„高精度æ¿è¼‰åŸºæº–ï¼Œåœ¨æ ¡æº–è»Ÿä»¶çš„æŽ§åˆ¶ä¸‹ï¼Œæ¸¬è©¦å’Œä¿®æ£æ‰€æœ‰çš„誤差(如NIå…¬å¸çš„PXI6704æ¨¡æ“¬è¼¸å‡ºæ¨¡å¡Šï¼‰ã€‚æ¨¡å¡Šçš„è‡ªæ ¡æº–ç„¡é ˆé€£æŽ¥å¤–éƒ¨ä¿¡è™Ÿï¼Œæ˜¯æé«˜æ¸¬é‡ç²¾åº¦ã€æ¸›å°‘自身誤差的有效途徑。
  
3ã€å¤–éƒ¨æ ¡æº–æ–¹å¼
ã€€ã€€è‡ªæ ¡æº–ä¸ç”¨åˆ°çš„æ¿è¼‰åŸºæº–åœ¨å¤§å¤šæ•¸(shù)情æ³ä¸‹æ˜¯è¶³å¤ ç©©(wÄ›n)定的,但是如果在極端的溫度環(huán)å¢ƒä¸‹æˆ–è€…æ ¡æº–æœŸè¶…éŽä¸€å¹´ï¼Œé‚£ä¹ˆæ‡‰è©²é€²è¡Œä¸€æ¬¡å¤–éƒ¨æ ¡æº–ã€‚å¤–éƒ¨æ ¡æº–æŒ‡é‡‡ç”¨å¤–éƒ¨åŸºæº–ï¼ˆå–代æ¿è¼‰åŸºæº–ï¼‰å°æ¨¡å¡Šé€²è¡Œçš„æ ¡æº–ï¼Œå¤–éƒ¨æ ¡æº–é€šå¸¸æƒ…æ³ä¸‹è¦å°æ¿è¼‰åŸºæº–釿–°å®šæ¨™ï¼Œå®šæ¨™çµæžœå˜å„²åœ¨EEPROMä¸ï¼Œä»¥å‚™ä»ŠåŽèª¿(dià o)ç”¨ï¼Œé€²è¡Œå¤–éƒ¨æ ¡æº–æ™‚ï¼Œä½¿ç”¨çš„å¤–éƒ¨åƒè€ƒåŸºæº–è¦ç¢ºä¿æœ‰è¶³å¤ 高的精度,通常情æ³ä¸‹å¤–部åƒè€ƒåŸºæº–的精度應該是模塊自身æ¿è¼‰åŸºæº–çš„3~5å€ï¼Œå¤–éƒ¨æ ¡æº–ä¸€èˆ¬ç”±ç”¨æˆ¶å§”æ‰˜å…·å‚™æ ¡æº–èƒ½åŠ›å¯¦é©—å®¤é€²è¡Œã€‚