Products:
  LabVIEW, PXI/CompactPCI, TestStand
The Challenge:
  使用商æ¥å¯ç”¨çš„æŠ€è¡“建立混åˆä¿¡è™Ÿçš„自動化測試系統,以減少新一代æ¤å…¥å¼åŠ©è½å™¨çš„æˆæœ¬èˆ‡é–‹ç™¼æ™‚é–“ã€‚
The Solution:
  使用 NI LabVIEWã€PXI 電腦å¼å„€å™¨èˆ‡ NI TestStand,建立一套自動化測試系統,能以 70% 的開發時間æä¾›æ›´å¤šæ›´éˆæ´»çš„功能。
è¨è¨ˆé«˜æ•ˆçŽ‡çš„æ¸¬è©¦ç³»çµ±
  ä½äºŽæ¾³æ´²æ‚‰å°¼çš„ Cochlear Ltd. 公叿˜¯æ¤å…¥å¼åŠ©è½å™¨æ¥ç•Œä¸é¦–屈一指的公å¸ï¼Œè®“世界å„地數以åƒè¨ˆçš„é‡åº¦èˆ‡æ¥µé‡åº¦è½éšœäººå£«ï¼Œé‡æ–°é«”驗美妙的è½è¦ºæ„Ÿå—ã€‚æˆ‘å€‘çš„æ——è‰¦ç”¢å“æ˜¯ Nucleus 人工電å耳系統,里é¢åŒ…å«äº†ä¸€å€‹å…§éƒ¨çš„æ¤å…¥ç‰©èˆ‡ä¸€å€‹å¤–éƒ¨çš„èªžè¨€è™•ç†å™¨ã€‚語言處ç†å™¨æœƒå°‡åˆ†æžè²éŸ³å¹¶æ•¸å—化æˆç·¨ç¢¼è¨Šè™Ÿï¼Œç„¶åŽé€éŽ RF 信號傳é€åˆ°æ¤å…¥ç‰©ä¸ã€‚æ¤å…¥ç‰©å°‡ä¿¡è™Ÿè½‰æ›æˆé›»è„ˆæ²–,然åŽç›´æŽ¥åˆºæ¿€è€³è¸çš„神經纖ç¶ï¼Œç”¢ç”Ÿè½è¦ºã€‚我們會é‡å°å€‹äººçš„è½è¦ºéœ€æ±‚,å°èªžè¨€è™•ç†å™¨é€²è¡Œç‰¹æ®Šçš„程åºè¨è¨ˆï¼Œå¹«åЩ酿ˆ´è€…éŽè‘—æ£å¸¸çš„生活。
ã€€ã€€å…¬å¸æ³¨é‡ç”¢å“çš„å“è³ªèˆ‡å®‰å…¨æ€§ï¼Œé€™é»žå¹«åŠ©äº†æˆ‘å€‘åœ¨å¸‚å ´ä¸Šç¶æŒé ˜å…ˆçš„地ä½ï¼Œæ‰€ä»¥æ¸¬è©¦ç³»çµ±åœ¨ç¢ºä¿å“質與安全性上扮演著關éµçš„角色。我們的æ¤å…¥ç³»çµ±éžå¸¸å¾©é›œï¼Œæ¶µè“‹äº†è¨±å¤šä¸åŒçš„部分與å系統。é‡å°æ‰€æœ‰çš„元件發展測試系統的話,會花費我們大é‡çš„æ™‚間與資æºï¼Œä½†æ˜¯æˆ‘們的時間éžå¸¸å¯¶è²´ï¼Œå› æ¤æˆ‘們使用 NI 產å“,為我們最新的è½åŠ›æŠ€è¡“è§£æ±ºæ¸¬è©¦æ–¹é¢çš„å•題。
  隨著產å“的發展,它們會越來越復雜,包å«è¶Šä¾†è¶Šå¤šçš„å…ƒä»¶ã€‚åŒæ™‚,隨著å“質標準的æé«˜ã€ç”Ÿç”¢èˆ‡æ¸¬è©¦æ™‚é–“çš„æ¸›å°‘ï¼Œæˆ‘å€‘éœ€è¦æ–°çš„æ¸¬è©¦ç³»çµ±ã€‚我們習慣使用定制化的硬件與軟件在公å¸å…§éƒ¨é–‹ç™¼æ‰€æœ‰çš„æ¸¬è©¦è§£æ±ºæ–¹æ¡‰ã€‚å°äºŽæ¯”較簡單的產å“ä¾†èªªï¼Œé€™æ¨£å°±å·²è¶³å¤ ï¼Œä½†æ˜¯æˆ‘å€‘åœ¨ç™¼å¸ƒæ–°ç”¢å“æ™‚å»éé‡åˆ°å›°é›£ï¼Œå› 為測試系統總是來ä¸åŠæº–備好。我們知é“å°äºŽç›®å‰æ£åœ¨ç ”發的新產å“ä¾†èªªï¼Œé–‹ç™¼æ–°çš„æ¸¬è©¦ç³»çµ±æ˜¯ä¸€é …è‰±å·¨çš„ä»»å‹™ï¼Œä½¿ç”¨å‚³çµ±çš„æ–¹æ³•æ ¹æœ¬ä¾†ä¸åŠï¼Œæ‰€ä»¥ï¼Œæˆ‘們開始尋找別的方法,嘗試使用商用å¯ç”¨çš„æŠ€è¡“。
  我們æ¯å¹´è³£å‡ºæ•¸åƒå€‹ç³»çµ±ï¼Œæˆ‘å€‘æ‰€åœ¨çš„å¸‚å ´è®ŠåŒ–å¿«é€Ÿï¼Œå¾žåˆ©åŸºæ‡‰ç”¨è®Šæˆå…¬èªçš„主æµé†«ç™‚技術。由公å¸å…§éƒ¨è‡ªè¡Œç™¼å±•的測試方法已經ä¸å†é©ç”¨ï¼Œä½†æ˜¯æˆ‘們尚未準備好購買幾百è¬å…ƒçš„æ¸¬è©¦ç³»çµ±ã€‚PXI 解決方案的åˆç†åƒ¹æ ¼ï¼Œä½¿å…¶æˆç‚ºéˆæ´»æ¸¬è©¦ç³»çµ±çš„æœ€ä½³è§£æ±ºæ–¹æ¡ˆï¼Œä»¥åˆç†çš„åƒ¹ä½æä¾›äº†é«˜å“質的æœå‹™ã€ç¶“éŽé©—è‰çš„硬件與強大的軟件。
  我們é‡å°å…§éƒ¨ç ”發使用了新的 PXI 架構功能測試系統,從電路æ¿åˆ°çµ„è£å®Œæˆçš„產å“,測試了 8 種ä¸åŒçš„æ‡‰ç”¨ã€‚我們也使用這套系統在公å¸å…§éƒ¨ä»¥åŠä¸åŒçš„ä»£å·¥å» ä¸é€²è¡Œç”Ÿç”¢æ¸¬è©¦ã€‚系統需è¦åŸ·è¡Œçœ¾å¤šçš„å‹•ä½œï¼ŒåŒ…æ‹¬æ•æ‰ã€å„²å˜èˆ‡åˆ†æž 5 MHz 信號的波形,將電力與資料穿越皮膚,傳é€åˆ°æ¤å…¥ç‰©ä¸ã€‚我們使用è²éŸ³æ¸¬é‡ã€é›»å£“åƒæ•¸æ¸¬é‡ã€åœ¨ä¸åŒè² 載情æ³ä¸‹çš„é›»æµæ¸¬é‡ï¼ŒåŒæ™‚é€šéŽæ•¸å— I / OåŠ GPIB與外部è¨å‚™æºé€šã€‚我們使用 USB 通訊è¨å‚™ä¾†æŽ§åˆ¶å®šåˆ¶é›»è·¯æ¿ä¸Šçš„繼電器ã€é–‹é—œèˆ‡å…¶ä»–çš„ç¡¬ä»¶ã€‚ç³»çµ±ä¹Ÿå¿…é ˆèƒ½å¤ æº–ç¢ºèª¿æ•´å…±æŒ¯é›»è·¯å¹¶æ¸¬è©¦ I2C é€šè¨Šã€‚ç³»çµ±æœƒè‡ªå‹•ç”Ÿæˆæ¸¬è©¦å ±å‘Šï¼ŒåŒæ™‚通éŽç¶²çµ¡é€²è¡Œå˜è²¯ï¼Œä¾›æ—¥åŽçµ±è¨ˆåˆ†æžä¹‹ç”¨ã€‚CPE Systems 公叿˜¯æœ¬åœ°çš„ NI 系統è¯ç›Ÿå•†ï¼Œä»–們å”助我們開發了 LabVIEW 與 NI TestStand 所需的定制界é¢èˆ‡è»Ÿä»¶é–‹ç™¼ç¨‹åºã€‚
  這套測試系統包å«äº† 1 個具有 GPIB 接å£çš„ PXI Pentium 4 控制器ã€NI PXI-4070 FlexDMM å¡ã€NI PXI-6052E 多功能數據采集 (DAQ) å¡ï¼Œä»¥åŠ NI PXI-5112 高速數å—化儀。DAQ å¡ã€FlexDMM å¡èˆ‡é«˜é€Ÿæ•¸å—化儀會æä¾›æ¸¬é‡æ··åˆä¿¡è™Ÿèˆ‡ä¿¡è™Ÿé–‹é—œé–‹é—œæ‰€éœ€çš„æ‰€æœ‰æ•¸å—輸入與輸出。RS232 通訊è¨å‚™æŽ§åˆ¶æœƒ 1 個調節放大器,而 USB å‰‡æŽ§åˆ¶å¦ 1 個定制接å£å¡ã€‚é€™å¥—æ–°ç³»çµ±æ¯”ä»¥å‰æ‰€æœ‰çš„æ¸¬è©¦ç³»çµ±æ›´è¼•巧,å¯ä»¥ç¯€çœå¯¶è²´çš„產線空間。PXI 平臺æ„å‘³è‘—é€™å¥—ç³»çµ±å…·æœ‰éˆæ´»ã€ç¶ä¿®å®¹æ˜“ã€è¼•æ¾æ›´æ–°çš„優點。
å‰µé€ å…·æœ‰éˆæ´»çš„軟件架構
  我們使用 NI LabVIEW 與 NI TestStand é–‹ç™¼éˆæ´»çš„軟件架構,以解決目å‰åŠæœªä¾†çš„æ¸¬è©¦éœ€æ±‚ã€‚é€™å¥—è»Ÿä»¶çš„åŠŸèƒ½çœ¾å¤šï¼Œèƒ½å¤ æ¸¬è©¦ä¸åŒç‰ˆæœ¬çš„產å“,以åŠé–‹æ”¾å¼èˆ‡å°é–‰å¼ç¡¬ä»¶ã€‚使用 NI TestStand,我們å¯ä»¥åˆ©ç”¨å•†æ¥å¯ç”¨çš„æ¸¬è©¦åŸ·è¡ŒåŠŸèƒ½ä¾†ç¯€çœé–‹ç™¼æ™‚間。
  使用定制化的æ“作界é¢ï¼Œæ“作員å¯ä»¥ç™»é™¸ã€è¼‰å…¥é¸å‡ºçš„æ¸¬è©¦åºåˆ—,然åŽç›£æŽ§æ¸¬è©¦éŽç¨‹ã€‚界é¢ä¹Ÿæœƒæä¾›å³æ™‚資料更新給æ“作員ã€ç”Ÿæˆæ¸¬è©¦å ±å‘Šï¼Œç„¶åŽå°‡æ‰€æœ‰çš„æ¸¬è©¦è³‡è¨Šè¨˜éŒ„到資料庫ä¸ï¼Œä¾›æ—¥åŽåˆ†æžä¹‹ç”¨ã€‚我們在 LabVIEW 䏿’°å¯«å€‹åˆ¥çš„æ¸¬è©¦ï¼Œé€™ä¹Ÿå¯ä»¥ç¯€çœé–‹ç™¼æ™‚é–“ï¼Œå› ç‚ºæˆ‘å€‘æ“æœ‰é¾å¤§çš„函數庫å¯ä»¥æ¸¬é‡ã€èˆ‡ç¡¬ä»¶é€£æŽ¥ã€åˆ†æžçµæžœï¼Œä»¥åŠé¡¯ç¤ºã€‚é€šéŽæ¨¡å¡ŠåŒ–æ“作界é¢é€²è¡Œåºåˆ—æŽ§åˆ¶ï¼Œå¹¶å°‡å…¶èˆ‡å€‹åˆ¥æ¸¬è©¦æ¨¡å¡Šåˆ†é–‹ï¼Œæˆ‘å€‘ä¾¿èƒ½å°‡é–‹ç™¼çš„æˆæžœä½¿ç”¨äºŽæ›´å¤šæœ‰é¡žä¼¼æ¸¬è©¦éœ€æ±‚的產å“ä¸Šã€‚ä»¥çµ±ä¸€çš„æ ¼å¼è¨˜éŒ„æ‰€æœ‰çš„æ•¸æ“šï¼Œæˆ‘å€‘çš„ç ”ç™¼èˆ‡ç”Ÿç”¢å·¥ç¨‹å¸«å°±èƒ½é€²è¡Œåˆ†æžå¹¶æ‰¾å‡ºè¶¨å‹¢ï¼Œå¹¶åˆ¶ä½œç”Ÿç”¢æ”¶ç›Šçš„å ±å‘Šã€‚ä»–å€‘ä¹Ÿæœƒä½¿ç”¨æ•¸æ“šåˆ†æžå¤±æ•—åŽŸå› ï¼Œå¹¶åœ¨è¨å‚™åˆ¶é€ çš„éŽç¨‹ä¸æ‰¾å‡ºå¾…æ”¹é€²ä¹‹è™•ã€‚è¨˜éŒ„ä¸æ“有所有的測試資料,包å«ä½¿ç”¨çš„åºåˆ—ã€åƒæ•¸ã€æ¸¬è©¦å„€å™¨çš„æ ¡æ£æ—¥æœŸã€æ¸¬è©¦æ™‚間,以åŠç”¢å“çš„é€šéŽ / 失敗狀態。
NI TestStand æˆæžœæ–ç„¶
  新的功能測試系統å”助我們在緊迫的時間壓力下完æˆå·¥ä½œï¼Œå°‡æ–°ç”¢å“çš„è¨è¨ˆå¾žæ¦‚å¿µéšŽæ®µå¸¶å…¥åˆ¶é€ éšŽæ®µã€‚NI TestStand 為我們的 LabVIEW æ¸¬è©¦æ¨¡å¡Šåˆ¶é€ äº†ä¸€å€‹æ¨¡å¡ŠåŒ–ã€å¯é‡å¾©ä½¿ç”¨çš„æ¸¬è©¦æž¶æ§‹ï¼ŒNI TestStand å°æˆ‘們來說éžå¸¸å¯¦ç”¨ã€‚從專æ¥çš„角度來看,我們ç¾åœ¨å¯ä»¥åœ¨å‰æ‰€æœªæœ‰çš„çŸæ™‚é–“å…§å°±é–‹ç™¼å®Œæˆæ¸¬è©¦ç³»çµ±ï¼Œå› ç‚ºèˆ‡è»Ÿç¡¬ä»¶é–‹ç™¼æœ‰é—œçš„å¤§éƒ¨åˆ†é¢¨éšªéƒ½è¢«ç§»é™¤äº†ã€‚æˆ‘å€‘åˆæœŸçš„è¨“ç·´æŠ•è³‡æˆæœ¬ä¹Ÿå› 為開發這個專æ¥çš„æ™‚間縮çŸï¼Œè€Œä¸”æ”¶å›žäº†æˆæœ¬ã€‚在未來的開發ä¸ï¼Œå› ç‚ºæˆ‘å€‘çš„å·¥ç¨‹å¸«å·²ç¶“ç¿’æ…£ä½¿ç”¨é€™äº›å·¥å…·ï¼Œæ‰€ä»¥æˆ‘å€‘é æœŸé–‹ç™¼çš„æ™‚é–“æœƒç¸®çŸ 30 %。