時間:2015-07-21 17:06:56來æºï¼šæ’潤科技
摘è¦ï¼šæœ¬æ–‡å°‡æä¾›é‡å°æ–°èƒ½æºè»Šè¼›çš„HCUã€MCU以åŠBMS三個控制器測試的解決方案。
1.概述
隨著混åˆå‹•力以åŠç´”é›»å‹•æ±½è»Šçš„ä¸æ–·ç™¼å±•,電機控制ç–略的復雜性和å¯é 性日益æå‡ã€‚æ•´è»Šå» ä»¥åŠä¾›æ‡‰å•†å°æ–°èƒ½æºæŽ§åˆ¶å™¨çš„開發環境的需求也在增長。
æ’æ½¤ç§‘技æä¾›äº†æ–°èƒ½æºæ±½è»ŠæŽ§åˆ¶çš„æ•´é«”解決方案,å¯è®“工程師在實驗室環境下,完æˆå°æ•´è»ŠæŽ§åˆ¶å™¨(HCU)ã€é›»æ± 管ç†å–®å…ƒ(BMS)ã€é›»æ©ŸæŽ§åˆ¶å™¨(MCU)ã€åŠŸèƒ½çš„é©—è‰ã€‚å¯ä»¥æ¨¡æ“¬å¯¦è»Šæ¸¬è©¦ä¸é‡åˆ°çš„æ‰€æœ‰å·¥æ³èŒƒåœï¼Œåœ¨å¯¦è»Šè©¦é©—之å‰å³å¯å°ECUåŠŸèƒ½é€²è¡Œå…¨é¢æ¸¬è©¦ã€‚
本文將æä¾›é‡å°æ–°èƒ½æºè»Šè¼›çš„HCUã€MCU以åŠBMS三個控制器測試的解決方案。
2.技術難點
é‡å°BMS的工作電壓測試ã€å–®é«”é›»æ± é›»å£“ã€æº«åº¦æ¸¬è©¦ã€SOC計算功能測試ã€å……放電控制測試ã€é›»æ± 熱平衡測試ã€é«˜å£“安全功能測試ã€é€šè¨Šæ¸¬è©¦ã€æ•…障診斷測試ç‰ç‰ä¸€ç³»åˆ—測試,OEMé¢è‡¨è‘—諸多挑戰。
é‡‡ç”¨çœŸå¯¦çš„é›»æ± çµ„æ¸¬è©¦BMS有著諸多的弊端:
極é™å·¥æ³æ¨¡æ“¬çµ¦æ¸¬è©¦äººå“¡å¸¶ä¾†å®‰å…¨é𱿂£ï¼Œä¾‹å¦‚éŽå£“ã€éŽæµå’ŒéŽæº«ï¼Œæœ‰å¯èƒ½å°Žè‡´é›»æ± 爆炸。
SOC估計算法驗è‰è€—æ™‚é•·ï¼ŒçœŸå¯¦çš„é›»æ± çµ„å……æ”¾é›»è©¦é©—è€—æ™‚ä¸€å‘¨ç”šè‡³æ›´é•·çš„æ™‚é–“ã€‚
模擬特定工æ³é›£åº¦å¤§ï¼Œä¾‹å¦‚å‡è¡¡åŠŸèƒ½æ¸¬è©¦æ™‚ï¼Œåˆ¶é€ é›»æ± å–®é«”é–“ç´°å¾®SOCå·®åˆ¥ï¼Œé›»æ± ç†±å¹³è¡¡æ¸¬è©¦æ™‚ï¼Œåˆ¶é€ å–®é«”å’Œé›»æ± åŒ…é–“ç´°å¾®çš„æº«åº¦å·®åˆ¥ç‰ã€‚
以åŠå…¶ä»–é‡å°BMSåŠŸèƒ½æ¸¬è©¦ï¼Œå¦‚é›»æ± çµ„å·¥ä½œé›»å£“ã€å–®é«”é›»æ± é›»å£“ã€æº«åº¦ã€SOC計算功能ã€å……放電控制ã€é›»æ± 熱平衡ã€é«˜å£“安全功能ã€å‡è¡¡åŠŸèƒ½ã€é€šè¨Šã€æ•…障診斷ã€å‚³æ„Ÿå™¨ç‰ä¸€ç³»åˆ—的測試,OEM都é¢è‡¨è‘—諸多挑戰。
MCUåœ¨ç ”ç™¼éŽç¨‹ä¸æ¶‰åŠè¢«æŽ§å°è±¡çš„仿真。而電機本體的工作原ç†ä¸»è¦åŸºäºŽé›»ç£æ„Ÿæ‡‰åŽŸç†ï¼Œå…¶å„物ç†é‡(如ç£é€šé‡ã€æ„Ÿæ‡‰é›»å‹•å‹¢ã€é›»ç£åŠ›ç‰)的交互變化速度é 大于機械系統的力與速度的變化,為了ä¿è‰è¼ƒé«˜çš„ä»¿çœŸç²¾åº¦ï¼Œè¦æ±‚模型的仿真æ¥é•·è¦é å°äºŽä¸€èˆ¬æ©Ÿæ¢°ç³»çµ±æ¨¡åž‹çš„仿真æ¥é•·ã€‚
相應的,å€åˆ¥äºŽæ±½è»Šä¸Šä¸€èˆ¬çš„電控系統,MCUçš„ç‰¹æ®Šä¹‹è™•ä¹Ÿæ˜¯åœ¨äºŽå®ƒå…·æœ‰è¼ƒé«˜çš„æŽ§åˆ¶é »çŽ‡å’Œå¾ˆé«˜çš„è¼¸å…¥ä¿¡è™Ÿé »çŽ‡ã€‚ä¾‹å¦‚ï¼ŒMCUå°é€†è®Šå™¨IGBTçš„PWMæŽ§åˆ¶é »çŽ‡è¶…éŽ10kHz;電機å饋的電機ä½ç½®æ—‹è®Šä¿¡è™Ÿçš„é »çŽ‡å¯é”12kHzä»¥ä¸Šã€‚é€™å°±è¦æ±‚HIL實時仿真系統å°MCU控制信號采集和電機傳感器信號的仿真都è¦é”åˆ°å¾ˆé«˜çš„é »çŽ‡ï¼Œä¸€èˆ¬è¦æ±‚é‡‡é›†é »çŽ‡é”åˆ°ä¿¡è™Ÿé »çŽ‡çš„1000å€ä»¥ä¸Šï¼Œä¿¡è™Ÿä»¿çœŸè¼¸å‡ºé »çއé”åˆ°ä¿¡è™Ÿé »çŽ‡çš„100å€ä»¥ä¸Šã€‚
é¢å°ä¸Šè¿°æŒ‘æˆ°ï¼Œæ’æ½¤ç§‘技æä¾›åŸºäºŽTestBaseçš„æ–°èƒ½æºæ±½è»Šæ¸¬è©¦çš„解決方案。
3.解決方案
3.1.BMS解決方案
é›»æ± ç®¡ç†ç³»çµ±å¤šé‡‡ç”¨åˆ†å¸ƒå¼çµæ§‹ï¼ŒåŒ…括1個主控單元BMU和若干個單體檢測單元BCU,如下圖所示。
圖1é›»æ± ç®¡ç†ç³»çµ±åˆ†å¸ƒå¼çµæ§‹åœ–
ç›¸æ‡‰çš„ï¼Œé›»æ± ç®¡ç†ç³»çµ±çš„HIL測試也å¯ä»¥åˆ†ç‚ºBMS級測試和BMU級測試。
BMS級測試ä¸ï¼ŒBMU和所有BCU都作為測試å°è±¡ï¼ŒHIL系統需è¦ç‚ºBCUæä¾›æ¯ä¸€å€‹å–®é«”的輸出電壓信號以åŠè‹¥å¹²å€‹æº«åº¦ä¿¡è™Ÿã€‚由于BMS級別測試更å´é‡BMSå°é›»æ± 包本身的管ç†åŠŸèƒ½ï¼Œä¾‹å¦‚å–®é«”é›»å£“é‡‡æ¨£ã€æº«åº¦é‡‡æ¨£ã€SOC估計ã€å–®é«”一致性檢測ç‰åŠŸèƒ½ï¼Œå› è€Œä¸»è¦ç”¨åœ¨éƒ¨ä»¶ç´šæ¸¬è©¦ä¸ã€‚
在BMU級測試ä¸ï¼ŒBCU采用仿真的形å¼ï¼ŒHIL系統åªéœ€è¦é€šéŽCAN總線將BCUçš„ç›¸é—œå ±æ–‡ç™¼é€çµ¦BMUå³å¯ï¼Œç„¡éœ€åœ¨ç¡¬ä»¶ä¸Šæ¨¡æ“¬å‡ºå–®é«”電壓和溫度信號這種方å¼å¯ä»¥ç¯€çœå¾ˆå¤§ä¸€éƒ¨åˆ†çš„HILç³»çµ±ç¡¬ä»¶æˆæœ¬ã€‚BMU級測試多用于動力系統級或整車級的測試ä¸ã€‚
3.2.MCU解決方案
æ–°èƒ½æºæ±½è»Šå‹•力系統ä¸ç”¨åˆ°çš„電機一般為永ç£åŒæ¥é›»æ©Ÿï¼Œé›»æ©Ÿç³»çµ±é€šå¸¸ç”±é›»æ©Ÿæœ¬é«”ã€é€†è®Šå™¨å’Œé›»æŽ§å–®å…ƒMCU組æˆã€‚
é‡å°é›»æ©ŸæŽ§åˆ¶ç³»çµ±çš„æ¸¬è©¦ä¸€èˆ¬å¯åˆ†ç‚ºä¿¡è™Ÿç´šå’ŒåŠŸçŽ‡ç´šï¼Œå…¶å€åˆ¥ä¸»è¦åœ¨äºŽæ˜¯å¦å°‡çœŸå¯¦é€†è®Šå™¨æŽ¥å…¥æ¸¬è©¦ç³»çµ±ã€‚
圖2電機信號級測試原ç†
圖3電機功率級測試原ç†
åŸºäºŽç¬¬äºŒç« æ‰€è¿°çš„MCUæ¸¬è©¦çš„æŠ€è¡“é›£é»žï¼Œæ’æ½¤ç§‘技æä¾›äº†åŸºäºŽé«˜æ€§èƒ½FPGA的電機實時仿真方案。NI的高性能FPGAæ¿å¡PXI7966R滿足電機實時仿真的所有特性需求,包括:
1)40MHzçš„PWM采集通é“,用于逆變器IGBT控制信號采集;
2)2MHz的高速DA輸出通é“,用于旋變信號和三相電æµä¿¡è™Ÿä»¿çœŸ;
3)強大的計算能力,在進行高速IO信號處ç†çš„åŒæ™‚,滿足電機模型的實時仿真需求,仿真æ¥é•·å¯ä½ŽäºŽ2us。
圖4基于FPGA的電機仿真解決方案
本方案ä¸MCUHIL測試相關的é…ç½®(除通用的HIL系統軟硬件é…置外)包括:
在滿足MCUåŸºæœ¬æ¸¬è©¦éœ€æ±‚çš„åŒæ™‚,MCUæ¸¬è©¦è§£æ±ºæ–¹æ¡ˆé‚„èƒ½å¤ æä¾›å¤šç¨®è¢«æŽ§å°è±¡æ•…障的仿真功能,包括:
能模擬三相主動çŸè·¯å’Œä¸»å‹•開路工æ³ä¸‹é›»æ©Ÿçš„穩態和瞬態電氣特性
èƒ½æ¨¡æ“¬è½‰åæ°¸ç£é«”退ç£å’Œå¤±ç£çš„特性。
能模擬電機繞組åŒç›¸åŒé–“和相間çŸè·¯åŠæ–·è·¯æ™‚的故障特性。
能模擬電機散熱ä¸è‰¯å°é›»æ©Ÿæº«å‡ç‰¹æ€§çš„影響。
能模擬å„個傳感器的å„類故障(çŸè·¯ã€é–‹è·¯ç‰å¤±æ•ˆæ¨¡å¼)
3.3.HCU解決方案
在HCU的測試解決方案ä¸ï¼Œæ¨¡æ“¬å™¨éœ€è¦æ¨¡æ“¬HCU需è¦çš„å‚³æ„Ÿå™¨æ¯”å¦‚ï¼šæ²¹é–€è¸æ¿ã€åˆ¶å‹•è¸æ¿ç‰ï¼ŒåŒæ™‚采集HCU的輸出信號比如:冷å»é¢¨æ‰‡ã€å‰ç½®é›¢åˆå™¨ç‰ã€‚HCU的復雜控制功能一般都是通éŽèˆ‡BMSã€MCUç‰ç›¸é—œæŽ§åˆ¶å™¨ç¯€é»žçš„å”åŒå·¥ä½œä¾†å¯¦ç¾ã€‚
4.總çµ
å°æ¯”é‡‡ç”¨çœŸå¯¦é›»æ± çš„BMS和真實電機的MCUæ¸¬è©¦ï¼Œé‡‡ç”¨é›»æ± ã€é›»æ©Ÿä»¿çœŸæŠ€è¡“çš„HIL測試具有如下明顯的優點:
安全ã€ç¯€èƒ½ï¼šé¿å…使用大功率充放電è¨å‚™ï¼Œé¿å…äº†æ¸¬è©¦çµ¦è©¦é©—äººå“¡é€ æˆçš„安全隱患;
æ–¹ä¾¿åˆ¶é€ å„種BMSã€MCU故障,從而全é¢çš„æ¸¬è©¦BMSã€MCU診斷功能;
通éŽè»Ÿç¡¬ä»¶é…置實ç¾å¤šç¨®è¦æ ¼çš„é›»æ± çµ„(單體數ã€é›»å£“ç‰ç´š)仿真和電機仿真;
å¯åœ¨ç·šå¿«é€Ÿä¿®æ”¹é›»æ± 狀態,如SOCã€æº«åº¦ç‰ï¼Œæé«˜æ¸¬è©¦æ•ˆçއ;
通éŽä¿®æ”¹æ¨¡åž‹åƒæ•¸å³å¯å¯¦ç¾é›»æ± è€åŒ–ã€å–®é«”ä¸ä¸€è‡´ç‰ç¾è±¡çš„æ¨¡æ“¬;
坿¨¡æ“¬æ•´è»Šé‹è¡Œç’°å¢ƒã€‚
標簽:
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