簡介：BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統采用特殊的結構設計，保證待測元器件區域溫度高穩定度及均勻度。采用雙高精度 RTD 溫度傳感器進行精密控溫及過溫保護，并具有多重保護功能，可以對器件在不同溫度下的性能...

簡介：BW-4022C半導體綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統，經我公司產品升級與開發，目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數測試，性能、精度、測試范圍均滿足客戶測...

簡介：BWDT-4022A 晶體管直流參數測試機是新一代針對半導體器件測試系統，經過我公司多次升與產品迭代，目測試性能、精度、測試范圍及產品穩定度得到大幅提升，成為半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業、科...

簡介： BW-4022A 晶體管直流參數測試機是新一代針對半導體器件測試系統，經過我公司多次升級與產品迭代，目前測試性能、精度、測試范圍及產品穩定度得到大幅提升，成為半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業...

簡介：STD2000晶體管圖示儀曲線追蹤掃描儀能測試很多電子元器件的靜態直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(o...

簡介：功率器件測試儀系統能測試很多電子元器件的靜態直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。測試種類...

簡介：分立器件參數測試儀系統能測試很多電子元器件的靜態直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。測試...

簡介：半導體參數測試儀能測試很多電子元器件的靜態直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。

簡介：STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統能測試很多電子元器件的靜態直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。

簡介： 三軸剪切試驗是測定土體抗剪強度的一種比較完善的室內試驗方法，通常采用3~4個圓柱形試樣，分別在不同的周圍壓力下測得土的抗剪強度，再利用摩爾-庫侖破壞準則確定土的抗剪強度參數。

簡介： 該款高頻疲勞試驗機用于測定金屬、合金材料（板材、棒材）在拉伸、壓縮或拉壓交變負荷狀態下疲勞特性、疲勞壽命、疲勞裂紋預制試驗。

簡介： 土動三軸試驗機，主要用于巖石、砂土、巖漿的軸向壓力和側向壓力的強度試驗、土動力學試驗，也用于測定細粒土和沙土的總、抗剪強度和有效抗剪強度參數。

簡介： 鐵路扣件系統組裝電液伺服疲勞試驗機，主機為雙立柱框架式平臺結構，最大載荷200kN，精度0.5%，頻率范圍0-20Hz，采用全數字控制系統，具有加載穩定可靠，通過配備的多種夾具，可完成符合TB/T3396標準的高速鐵...

簡介： 電液伺服控制粗顆粒土高壓動靜三軸試驗系統，主要用于砂土、粗粒土的軸向壓力和側向壓力的強度試驗、土動力學試驗。 該試驗機采用全數字閉環控制，操作簡單，性能可靠

簡介： 動剛度試驗系統，主要用于彈性體、橡膠彈性體、減振器等進行動靜剛度、阻尼系數、阻尼角等參數的測試和耐疲勞性能試驗。本系統能在正弦波、三角波、方波、梯形波、斜波、用戶自定義波形下進行多種試驗。

簡介： HTCK10系列壓力開關電路類型可分為“常開型”和“常閉型”兩種。廣泛應用于氣壓，液壓系統的壓力控制，壓力調整螺絲位于本體上方中央部位，順時針調整設定壓力增加，逆時針調整設定壓力減少。本系列壓力開關有特...

簡介：測量與316L不銹鋼兼容的氣體、液體

簡介：非腐蝕性干燥氣體的壓力進行測量和控制。可測10KPa以下的干燥氣體，最小量程可達100Pa