高精度直線光柵

      由于Renishaw的先進刻劃工藝，用于FASTRACK的RTLC和RTLA柵尺具有±5 µm/m的給定精度，無需補償。 更令人耳目一新的是，實際安裝精度典型情況下接近于±2 µm/m；就性能指標而言大大領先于對手。 此外，利用Renishaw的XL-80校準激光干涉儀進行簡單的兩點補償，線性誤差得到了嚴格控制，

      曲線圖顯示了在未經補償的情況下RTLC和FASTRACK的典型精度結果。

     測量優勢
      FASTRACK的典型設計能夠在極高的加速度負載下使柵尺保持原有位置，大大減少了兩個部件之間的摩擦力，因此允許柵尺在規定的膨脹系數范圍內自由膨脹。 因此滯后也保持在最低水平……在整個工作溫度范圍內，采用中心固定的2 m軸上的滯后僅為1 µm！

      FASTRACK的另一個獨特的測量優勢是夾緊方法，即將柵尺鎖定到底板的單個點上，而柵尺不發生變形；與用在傳統托架形光柵上的夾具相比，這是一項重大改進。 此種方法使系統構造器可以將柵尺固定在機器的理想位置上，而不會影響該區域的精度；此特性對于中心固定高精度軸尤其重要。

      改進的運動控制性能
      TONiC采用新一代創新光學濾波系統，噪聲（抖動）更低，包括自動增益控制和自動偏移量控制在內的動態信號處理使其功能更強大，因此具有極佳的可靠性和抗污染能力。 超低電子細分誤差 (SDE) 可實現更為平穩的速度控制，掃描性能及位置穩定性均獲得提高。 1 nm版本的TONiC（2009年9月起有售）具有額外的降噪能力，實現令人稱奇的0.5 nm RMS的抖動水平。

      RESOLUTE的優異性能是成熟、可靠和完全獨創的工作方法的成果。 可以將RESOLUTE當成超高速微型數碼相機，對由長的非重復條形碼組成的柵尺進行拍照。 RESOLUTE對這些照片進行分析，確定位置，分辨率可達1 nm，噪聲（抖動）和SDE（電子細分誤差，一個柵距周期內的誤差）都很低。 這可以提供極高保真度的光柵反饋，確保更平穩的速度控制和超強的位置穩定性。

      極佳的堅固性！
      FASTRACK特別設計用于柵尺易損的應用場合。 FASTRACK和柵尺均為硬化不銹鋼材質，可以抵抗跌落的玻璃、刀具或其它意外撞擊所帶來的損壞。 即使出現損壞，成熟的光學技術和極高的抗污能力也能確保對信號水平的影響微乎其微。