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聯電新推40nmSST嵌入式快閃記憶存儲器制程

時間:2018-01-05

來源:網絡轉載

導語:聯華電子宣布,推出的40nm納米SST嵌入式快閃記憶,在以往55納米單元尺寸減少20%以上,整體縮小了20~30%。東芝電子元件&存儲產品公司賑災評估這個微處理器芯片。

聯華電子宣布,推出的40nm納米SST嵌入式快閃記憶,在以往55納米單元尺寸減少20%以上,整體縮小了20~30%。東芝電子元件&存儲產品公司賑災評估這個微處理器芯片。

聯華電子宣布,該公司推出40納米結合SiliconStorageTechnology(SST)嵌入式SuperFlash非揮發性存儲器的制程平臺。新推出的40nm納米SST嵌入式快閃記憶,較量產的55納米單元尺寸減少20%以上,并使整體存儲器面積縮小了20~30%。東芝電子元件&存儲產品公司已開始評估其微處理器(MCU)芯片于聯華電子40納米SST技術平臺的適用性。

東芝電子元件&存儲產品公司混合信號芯片部門副總松井俊也表示:「我們期待采用聯華電子40納米SST技術有助于提升我們MCU產品的性能。與聯電合作,透過穩定的制造供應及配合我們的生產需求提供靈活的產能,亦將使我們能夠保持強勁的業務連續性計畫(BCP)。」

已有超過20個客戶和產品正以聯華電子55納米SST嵌入式快閃存儲器制程進行各階段的生產,包含了SIM卡,金融交易,汽車,物聯網,MCU及其它應用產品。

聯華電子特殊技術組織協理丁文琪表示:「自2015年提供55納米SST嵌入式快閃存儲器成為主流技術以來,我們一直受到客戶的高度關注,藉此制程平臺所具有的低功耗、高可靠度及卓越的數據保留和高耐久性的特性,可用于汽車、工業、消費者和物聯網的應用。我們很高興將這些產品進入大批量產,并正努力將這嵌入式快閃存儲器解決方案擴展到40納米的技術平臺,期待將SST的高速度和高可靠性優勢帶給東芝和其它晶圓專工客戶。」

聯華電子堅實的分離式閘極存儲器單元SST制程,依據JEDEC所制定的規范標準,具100K耐久性和在85℃及工作溫度范圍為-40℃~125℃溫度下,數據可保存10年以上。除40納米SST制程外,還有20多家客戶使用該公司的55納米SST技術生產各類應用產品。

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